Dimension FastScan? 原子力顯微鏡 (AFM)在不損失Dimension? Icon?的分辨率和的儀器性能前提下，大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數據的時間。

為提高AFM使用效率和檢測性能，Bruker開發了這套快速掃描系統，不降低分辨率，不增加操作復雜性，不影響儀器使用成本的前提下，幫助用戶實現了利用Dimension快速掃描系統，即快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設置實驗參數為掃描速度 > 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張AFM圖像，都能得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術創新重新定義了AFM儀器的操作和功能。